AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu
Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir. TT Atomik Kuvvet Mikroskobu Kompakt yapısı ve uygun fiyatı ile ikinci nesil yüksek çözünürlüklü masaüstü Atomik kuvvet mikroskobudur.
AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu
AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu, nanobilim ve nanoteknoloji alanında kullanılan güçlü bir yüzey karakterizasyon tekniğidir. AFM yüzeydeki atomik ölçekteki topografik özellikleri görüntülemek ve manipüle etmek için kullanılır. Bu mikroskop, bir prob (genellikle bir taramalı uçlu mikroskop iğnesi) ile örnek yüzeyi arasındaki etkileşimi kullanarak görüntüler oluşturur. Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir. Her çeşitli malzemelerin çeşitli yüzey özelliklerini (sürtünme, yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü, tribolojik özellikler, atomik seviyede yüzey kuvvetleri vb.) ve düşük boyutlu nano yapıların ve nano malzemelerin fizikokimyasal yüzey özelliklerinin elde edilmesinde kullanılır. Katı hal fiziği, yarıiletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği ve kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, hücre biyolojisi ve tıp gibi doğal bilimler gibi birçok alanda uygulanabilir.
Çalışma Prensibi
AFM nin çalışma prensibi şu şekildedir:
Probün Taraması: İnce bir prob, örnek yüzeyin üzerinde tarama yapar. Prob, ucundaki çok küçük bir ucu olan bir kantileverden oluşur. Bu kantilever, yüzeye yaklaştıkça eğilir veya bükülür. Yüzeyle olan bu etkileşim, kantileverin mekanik özelliklerinde değişikliklere neden olur.
Kuvvet Algılama: Kantileverin ucunda, probun yüzeye yaklaşmasını veya uzaklaşmasını algılayan bir algılayıcı bulunur. Bu algılayıcı, yüzeyle etkileşim sonucu oluşan kuvvet değişikliklerini ölçer.
Görüntü Oluşturma: Kantileverin yüzeye yaklaşıp uzaklaşmasının yarattığı bu kuvvet değişiklikleri, örnek yüzeyin topografik özelliklerini yansıtan bir sinyal olarak algılayıcıya iletilir. Bu sinyal, bir bilgisayar aracılığıyla gerçek zamanlı olarak işlenir ve görüntü oluşturulur. Sonuç olarak, örnek yüzeyin yüksek çözünürlüklü bir topografik haritası elde edilir.
Avantajları
Yüksek Çözünürlük: AFM atomik ölçekte yüzey topografisini inceleyebilme yeteneği sayesinde yüksek çözünürlük sunar.
Çeşitli Yüzeylerde Kullanım: Metal, polimer, seramik, biyolojik örnekler gibi farklı yüzey türlerinde kullanılabilir.
Gerçek Zamanlı Gözlem: Görüntü oluşturma gerçek zamanlıdır, bu da deneyleri daha etkili hale getirir.
Non-invaziv: Örnek yüzeye müdahale etmeden çalışabilir.
Ancak, AFM’nin aynı zamanda bazı sınırlamaları da vardır:
Yavaş Tarama: Tarama işlemi diğer mikroskopi tekniklerine göre daha yavaş olabilir.
Karmaşık Örnek Hazırlığı: Örneklerin özel hazırlık gerektirebilmesi, zaman alıcı olabilir.
Deneyci Bağımlılığı: Deneyin kalitesi ve sonuçların yorumu, deneyci tecrübesine dayanır.
AFM, malzeme bilimi, biyoloji, yüzey kimyası, nanoteknoloji, polimer bilimi gibi birçok alanda geniş bir uygulama yelpazesine sahip bir araştırma aracıdır.
TT Atomik Kuvvet Mikroskobu, kompakt yapısı ve uygun fiyatı ile ikinci nesil yüksek çözünürlüklü masaüstü Atomik kuvvet mikroskobudur. TT-AFM aşaması, yüksek çözünürlüklü AFM taraması için gereken mükemmel termal ve mekanik stabiliteye sahiptir. Ek olarak, açık tasarımı kullanıcı değişikliğini kolaylaştırır.
Afm Workshop TT Afm Özellikleri
- Kompakt,kullanıcı dostu,uygun fiyatlı
- Contact,Non contact,Lateral Force,EFM,MFM Litografi Modları
- Optic + Video Mikroskop desteği
- 50 mikron veya 15 mikron XYZ tarayıcısı
- Lab VIEW kullanım imkanı
- Titreşim engelleyici kabin ve masa
TT-AFM ve diğer benzer ürünlere buradan veya buradan ulaşabilirsiniz.