Elipsometre

Elipsometre sistemleri, belirli dalga boylarında ayarlanan ışığın ölçüm alınacak numuneden kırılması ve yansıması sonucunda ışığın kutuplanmasında oluşan değişikliği ölçen, ince filmlerin karakterizasyonunda sıklıkla başvurulan sistemlerdir.

Elipsometre sistemleri film kalınlığı, ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, elektrik iletkenliği ölçümlerini, yarı iletkenlerde ve ince film kaplı malzemeler gibi tüm yüzeylerde uygulayabilen farklı kullanım alanlarına sahip sistemlerdir.

Firmamız sunduğu Optosense elipsometre sistemleri ile, mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilir ölçümler alabilen, otomatik odaklanmaya sahip, gelişmiş yazılım ve kütüphaneli sistemleri uygun fiyatlarla laboratuvarlarınıza kazandırmayı amaçlamaktadır.

Tek bir sonuç gösteriliyor