Elipsometri, çok ince filmlerin veya malzemelerin katmanlarının kalınlığını ve optik özelliklerini ölçmek için optik bir tekniktir. Ölçülebilir özellikler, kırılma indisi veya ne kadar ışığın büküldüğü ve ışık emme seviyesinin soğurma katsayısı olarak adlandırılmasıdır. Bir elipsometre, bu ölçümleri yapmak için kullanılan bir cihazdır.
Elipsometre sistemleri, belirli dalga boylarında ayarlanan ışığın ölçüm alınacak numuneden kırılması ve yansıması sonucunda ışığın kutuplaşmasında oluşan değişikliği ölçer. İnce filmlerin karakterizasyonunda sıklıkla başvurulan sistemlerdir.
Bu sistemler film kalınlığı, ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, elektrik iletkenliği ölçümlerini, yarı iletkenlerde ve ince film kaplı malzemeler gibi tüm yüzeylerde uygulayabilen farklı kullanım alanlarına sahip sistemlerdir.
Firmamız sunduğu Optosense elipsometre sistemleri ile, mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilir ölçümler alabilir. Otomatik odaklanmaya sahip, gelişmiş yazılım ve kütüphaneli sistemleri uygun fiyatlarla laboratuvarlarınıza kazandırmayı amaçlamaktadır.
