Elipsometre
Elipsometri, çok ince filmlerin veya malzemelerin katmanlarının kalınlığını ve optik özelliklerini ölçmek için optik bir tekniktir. Ölçülebilir özellikler, kırılma indisi veya ne kadar ışığın büküldüğü ve ışık emme seviyesinin soğurma katsayısı olarak adlandırılmasıdır. Bir elipsometre, bu ölçümleri yapmak için kullanılan bir cihazdır.
Elipsometre
Elipsometri, çok ince filmlerin veya malzemelerin katmanlarının kalınlığını ve optik özelliklerini ölçmek için optik bir tekniktir. Ölçülebilir özellikler, kırılma indisi veya ne kadar ışığın büküldüğü ve ışık emme seviyesinin soğurma katsayısı olarak adlandırılmasıdır. Bir elipsometre, bu ölçümleri yapmak için kullanılan bir cihazdır.
Elipsometre, malzemelerin kalınlığını ve optik sabitleri (n, k) bulmakta kullanılan optik bir yöntemdir. Malzemenin optik sabitlerinin bilinmesi durumunda film kalınlığı, film kalınlığının bilinmesi durumunda da optik sabitleri bulunabilir. Polarize ışık demeti malzemeden yansır ve yansıyan ışın polarizasyon durumu için analiz edilir. Kutuplanmadaki değişim genlik oranı Ѱ ve faz değişimi Δ ile ifade edilir. Elde edilen veriler her bir malzemenin optik özelliklerine ve ölçülen filmin kalınlığına bağlıdır. Polarizasyondaki ölçülen değişim, malzemenin özelliklerini ortaya çıkarmakta kullanılır.
Elipsometre sistemleri, belirli dalga boylarında ayarlanan ışığın ölçüm alınacak numuneden kırılması ve yansıması sonucunda ışığın kutuplaşmasında oluşan değişikliği ölçer. İnce filmlerin karakterizasyonunda sıklıkla başvurulan sistemlerdir.
Bu sistemler film kalınlığı, ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, elektrik iletkenliği ölçümlerini, yarı iletkenlerde ve ince film kaplı malzemeler gibi tüm yüzeylerde uygulayabilen farklı kullanım alanlarına sahip sistemlerdir.
Firmamız sunduğu Optosense elipsometre sistemleri ile, mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilir ölçümler alabilir. Otomatik odaklanmaya sahip, gelişmiş yazılım ve kütüphaneli sistemleri uygun fiyatlarla laboratuvarlarınıza kazandırmayı amaçlamaktadır.
OPT-S3000-6000 TEK VEYA ÇOK DALGA BOYLU ELİPSOMETRE
– Uygun fiyat ve performans
– 20°-90° arası ayarlanabilen ölçüm açısı
– Otomatik odaklama
– Gelişmiş yazılım ve kütüphane
– 1 sn den kısa sürede ölçüm
– Yükseklik ve eğimi ayarlanabilir örnek tablası
OPT-S9000 SPEKTROSKOPİK ELİPSOMETRE
– Mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilirlik
– 0-30000 nm arası kalınlık ölçümü
– 20°-90° arası ayarlanabilir ölçüm açıları
– 250-2100 nm dalga boyu ölçüm aralığı
– Gelişmiş yazılım ve kütüphane
– Kolay modelleme sistemleri
– Haritalama-motorize tablası- motorize goniemetre-sıvı hücresi
Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.