Elipsometre
Elipsometri, çok ince filmlerin veya malzemelerin katmanlarının kalınlığını ve optik özelliklerini ölçmek için optik bir tekniktir. Ölçülebilir özellikler, kırılma indisi veya ne kadar ışığın büküldüğü ve ışık emme seviyesinin soğurma katsayısı olarak adlandırılmasıdır. Bir elipsometre, bu ölçümleri yapmak için kullanılan bir cihazdır.
Elipsometre
Elipsometri, çok ince filmlerin veya malzemelerin katmanlarının kalınlığını ve optik özelliklerini ölçmek için optik bir tekniktir. Ölçülebilir özellikler, kırılma indisi veya ne kadar ışığın büküldüğü ve ışık emme seviyesinin soğurma katsayısı olarak adlandırılmasıdır. Bir elipsometre, bu ölçümleri yapmak için kullanılan bir cihazdır.
Elipsometre, malzemelerin kalınlığını ve optik sabitleri (n, k) bulmakta kullanılan optik bir yöntemdir. Malzemenin optik sabitlerinin bilinmesi durumunda film kalınlığı, film kalınlığının bilinmesi durumunda da optik sabitleri bulunabilmektedir. Polarize ışık demeti malzemeden yansır ve yansıyan ışın polarizasyon durumu için analiz edilmektedir.
Kutuplanmadaki değişim genlik oranı Ѱ ve faz değişimi Δ ile ifade edilmektedir. Elde edilen veriler her bir malzemenin optik özelliklerine ve ölçülen filmin kalınlığına bağlıdır. Polarizasyondaki ölçülen değişim, malzemenin özelliklerini ortaya çıkarmakta kullanılmaktadır.
Elipsometre sistemleri, belirli dalga boylarında ayarlanan ışığın ölçüm alınacak numuneden kırılması ve yansıması sonucunda ışığın kutuplaşmasında oluşan değişikliği ölçer. İnce filmlerin karakterizasyonunda sıklıkla başvurulan sistemlerdir.
Bu sistemler film kalınlığı, ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, elektrik iletkenliği ölçümlerini, yarı iletkenlerde ve ince film kaplı malzemeler gibi tüm yüzeylerde uygulayabilen farklı kullanım alanlarına sahip sistemlerdir.
Firmamız sunduğu Optosense elipsometre sistemleri ile, mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilir ölçümler alabilmektedir. Otomatik odaklanmaya sahip, gelişmiş yazılım ve kütüphaneli sistemleri uygun fiyatlarla laboratuvarlarınıza kazandırmayı amaçlamaktadır.
OPT-S3000-6000 TEK VEYA ÇOK DALGA BOYLU ELİPSOMETRE
- Uygun fiyat ve performans ayrıca,
- 20°-90° arası ayarlanabilen ölçüm açısı ayrıca,
- Otomatik odaklama ayrıca,
- Gelişmiş yazılım ve kütüphane ayrıca,
- 1 sn den kısa sürede ölçüm ayrıca,
- Yükseklik ve eğimi ayarlanabilir örnek tablası
OPT-S9000 SPEKTROSKOPİK ELİPSOMETRE
- Mükemmel doğruluk ve tekrarlanabilirlik ayrıca,
- 0-30000 nm arası kalınlık ölçümü ayrıca,
- 20°-90° arası ayarlanabilir ölçüm açıları ayrıca,
- 250-2100 nm dalga boyu ölçüm aralığı ayrıca,
- Gelişmiş yazılım ve kütüphane ayrıca,
- Kolay modelleme sistemleri ayrıca,
- Haritalama-motorize tablası- motorize goniemetre-sıvı hücresi
Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.