Taramalı elektron mikroskobu veya SEM (scanning electron microscope), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu tipidir. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir. Elektron demeti raster tarama ile yüzeyi tarar ve demetin konumu, algılanan sinyalle eşleştirilerek görüntü oluşturulur. SEM ile 1 nanometreden daha yüksek çözünürlüğe ulaşılabilir. Standart SEM cihazları yüksek vakumda, kuru ve iletken yüzeyleri incelemek için uygundur.
Taramalı elektron mikroskobu ‘nda , yüksek enerjili elektronlar numune ile etkileşerek elektron ve foton sinyalleri oluşturur. Farklı açılarda saçılan elektronlar, dedektör (algılayıcı) tarafından toplanır ve toplanan sinyallerin mikroskop yazılımı ile işlenmesi sonucunda görüntüler elde edilir. İkincil elektronlar, malzeme topografisi ve geri saçılan elektronlar, atom numarasına ve kontrasta bağlı atomik kompozisyon hakkında bilgi vermektedir. Ayrıca EDS dedektör ile noktasal, çizgisel veya bölgesel nitel ve nicel analiz ile elementlerin dağılım haritalaması yapılmaktadır.
COXEM, Nano teknoloji alanında yaygın kullanılan bir platform teknolojisi olan Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) üretir ve sağlar. 21. yüzyılda endüstri koşullarını değiştiren Nano-Füzyon teknolojisinin bir ortağı olarak , en kaliteli hizmeti sunmaya çalışmaktadır. Uygun maliyetlerle orta seviye SEM analizine giriş yeteneklerinde devrim yaratmayı vaat ediyor.
Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM) cihazı ile yüksek büyütmelerde yüzey görüntüsü alabilmenin yanında malzemenin kimyasal kompozisyonu hakkında da bilgi edinilebilmektedir
Çok çeşitli işlevler ve uygulamalarla donanmış COXEM’in Taramalı Elektron Mikroskobu , araştırmacılar ve bilim adamları da dahil olmak üzere tüm endüstri için kesinlikle doğru seçim olacaktır.
Araştırma ve ürün geliştirmeye devam eden yatırımlarıyla COXEM, bilimsel pazarda SEM ‘in en hızlı büyüyen tedarikçisidir.
SEM, organların ve formların küçük parçalarını gözlemlemek için tasarlanmış yüksek hassasiyetli bir araçtır. Numunelerin daha yüksek bir büyütmede derinlemesine odak görüntülerinin elde edilmesini sağlar.
