Optik Profilometre ve Film Kalınlık Ölçüm Sistemleri

İnce film kalınlık ve reflektans ölçüm sistemleri, ince filmlerin kaplama kalınlıklarının (tek ya da çok katmanlı kaplamalar) ölçülmesinde kullanılan ve ışığı yansıtma özelliklerinin belirlenmesinde başvurulan sistemlerdir.

Başta MEMS, yarı iletken, ince film, OLED, LED, mikroakışkanlar, fotorezist, solar uygulamalar, silikon waferlar, membranlar, ITO, cam ve optalmik kaplamalar olmak üzere daha bir çok ürün ile alakalı uygulamalarda yüzey karakterizasyonunun yapılmasına olanak sağlayan sistemler laboratuvar ve endüstri ölçekli çözümler sunmaktadır.

Firmamızın tek yetkili temsilcisi olduğu FILMETRICS marka kalınlık, reflektans ve transmitans ölçüm sistemleri, tek ve çok katmanlı ince filmlerde modelleme yöntemi ile kalınlık tayini yaparken bunun yanı sıra yansıma (reflektans) ve geçirgenlik (transmitans) ölçümlerini gerçekleştirir.

Nanometre mertebesinde kalınlık ölçümleri yapabilen FILMETRICS sistemleri sahip olduğu geniş dalga boyu aralığı (350-2000nm) ile farklı yapıda malzemelerin tek bir sistemle karakterizasyonunun yapılmasına imkan sağlar.

Bunun yanı sıra öne çıkan üç boyutlu optik profilometre sistemi Profilm3D ile ince filmlerin kalınlık ölçümlerinde sahip olduğu interferometrik objektif ve hareketli numune tablası ile yüzey topografyasını kullanıcıya sunarak kalınlık ölçümlerinin yapılmasını sağlar.

Ülkemizde başta TÜBİTAK olmak üzere bir çok seçkin araştırma laboratuvarını referans listesinde bulunduran FILMETRICS ürünleri tek yetkili satıcısı konumunda olan firmamız üzerinden sipariş edilebilmektedir.

Gösterilen sonuç sayısı: 5