Optik Profilometre ve Film Kalınlık Ölçüm Sistemleri,İnce film kalınlık ve reflektans ölçüm sistemleri, olarak da adlandırılır. İnce filmlerin kaplama kalınlıklarının (tek ya da çok katmanlı kaplamalar) ölçülmesinde kullanılan ve ışığı yansıtma özelliklerinin belirlenmesinde başvurulan sistemlerdir.
Başta MEMS, yarı iletken, ince film, OLED, LED, mikroakışkanlar, fotorezist, solar uygulamalar, silikon waferlar, membranlar, ITO, cam ve optalmik kaplamalar olmak üzere daha bir çok ürün ile alakalı uygulamalarda yüzey karakterizasyonunun yapılmasına olanak sağlayan sistemler laboratuvar ve endüstri ölçekli çözümler sunmaktadır.
Firmamızın tek yetkili temsilcisi olduğu FILMETRICS kalınlık, reflektans ve transmitans ölçüm sistemleri, tek ve çok katmanlı ince filmlerde modelleme yöntemi ile kalınlık tayini yapar. Bunun yanı sıra yansıma (reflektans) ve geçirgenlik (transmitans) ölçümlerini gerçekleştirir.
Nanometre mertebesinde kalınlık ölçümleri yapabilen FILMETRICS sistemleri geniş dalga boyu aralığına (350-2000nm) sahiptir. Farklı yapıda malzemelerin tek bir sistemle karakterizasyonunun yapılmasına imkan sağlar.
Bunun yanı sıra öne çıkan üç boyutlu optik profilometre sistemi Profilm3D ile ince filmlerin kalınlık ölçümlerinde sahip olduğu interferometrik objektif ve hareketli numune tablası ile yüzey topografyasını kullanıcıya sunarak kalınlık ölçümlerinin yapılmasını sağlar.
FILMETRICS ülkemizde başta TÜBİTAK olmak üzere bir çok seçkin araştırma laboratuvarını referans listesinde bulundurur. Optik Profilometre ve Film Kalınlık Ölçüm Sistemleri ürünleri tek yetkili satıcısı konumunda olan firmamız üzerinden sipariş edilebilmektedir.
