F10-AR
F10-AR Yansıma Önleyici Kaplama Cihazı, yansıma önleyici kaplamaların basit, uygun maliyetli ölçümü için tasarlanmış ilk cihazdır. Günümüzde kullanılan çoğu enstrümanın maliyetinin çok altında bir fiyata mevcut olup, hat operatörlerinin saniyeler içinde ve yalnızca birkaç dakikalık eğitimle kesin okumalar yapmasına olanak tanıyan birkaç tescilli gelişme içerir.
F10-AR Yansıma Önleyici Kaplama Ölçüm Cihazı
F10-AR, yansıma önleyici kaplamaların basit, ve ayrıca uygun maliyetli ölçümü için tasarlanmış ilk cihazdır. Günümüzde kullanılan çoğu enstrümanın maliyetinin çok altında bir fiyata mevcuttur. Ayrıca hat operatörlerinin saniyeler içinde ve yalnızca birkaç dakikalık eğitimle kesin okumalar yapmasına olanak tanıyan birkaç tescilli gelişme içerir.
Minimum, maksimum ve ortalama yansıma, herhangi bir sayıda kullanıcı tanımlı dalga boyu aralığında uygun/başarısız olarak test edilebilmektedir. Özel bir algoritma, sert kaplama katmanlarının neden olduğu lokalize yansıma bozulmalarının düzeltilmesine izin verir.
AutoBaseline özelliğimiz, diğer fiber prob tabanlı yansıma ölçüm sistemlerinden çok daha yüksek temel aralıklar ve beş kat daha iyi doğruluk sağlar. Aynı zamanda isteğe bağlı UPG-F10-AR-HC yazılım yükseltmemizle 0,25-15µm sert kaplama kalınlığını ölçün. Böylelikle AR katmanlarının varlığında bile sert kaplama kalınlığını ölçmek sorun olmamaktadır.
Özel prob tasarımımız, 1,5 mm kalınlığındaki alt tabakalardaki arka yansımaların %98’ini reddeder. Aynı zamanda daha kalın lenslerde daha da fazlasını reddeder. F10-AR da Windows bilgisayarınızın USB bağlantı noktasına bağlanır ve dakikalar içinde kurulmaktadır. Bu da tüm ince film ölçüm sistemlerimiz gibidir faaliyet göstermektedir.
- KOLAY VE HIZLI YANSIMA ÖLÇÜMÜ
- MALZEMENİN KAPLAMA KALINLIĞINI ÖLÇME ÖZELLİĞİ
- RED
- OPTİK KOPYALAMA KALINLIK VE YANSIMA ÖLÇÜMLERİ
- GÖZLÜK CAMLARI YANSIMA VE GEÇİRGENLİK ÖLÇÜMLERİ
- AR-GE ÇALIŞMALARI
- OLED – MEMS
- MEDİKAL UYGULAMALAR
Optik Profilometre ve Film Kalınlık Ölçüm Sistemleri,
İnce film kalınlık ve reflektans ölçüm sistemleri, olarak da adlandırılır. İnce filmlerin kaplama kalınlıklarının (tek ya da çok katmanlı kaplamalar) ölçülmesinde kullanılmaktadır. Aynı zamanda ışığı yansıtma özelliklerinin belirlenmesinde başvurulan sistemlerdir.
Başta MEMS, yarı iletken, ince film, OLED, LED, mikroakışkanlar, fotorezist, solar uygulamalar, silikon waferlar, membranlar, ITO, cam ve optalmik kaplamalar olmak üzere daha bir çok ürün ile alakalı uygulamalarda yüzey karakterizasyonunun yapılmasına olanak sağlamaktadır. Ayrıca bu sistemler laboratuvar ve endüstri ölçekli çözümler sunmaktadır.
F10-AR Yansıma Önleyici Kaplama Cihazı ve benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.