Park NX 20 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu
Park NX20 AFM, çok çeşitli numuneleri işleyen ortak laboratuvarlar, çok değişkenli deneyler yapan araştırmacılar ve gofretler üzerinde çalışan arıza analizi mühendisleri için ideal kılan birçok benzersiz yetenek içerir.
Park NX 20 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu, tamamen otomatik olarak çalışabilen, yüksek çözünürlüklü 6” – 12” örnekler için uygun Atomik Kuvvet Mikroskobu’ dur. Sistemin sahip oluğu tarayıcı üniteleri Atomic Force Microscope olarak ultra hızlı görüntü alma imkanı sağlar.
Park NX 20 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu Özellikleri
Yüksek çözünürlükte 3D görüntü kalitesi
- Ultra hızlı tarayıcı
- Tamamen programlanabilir Smart Scan yazılım
- Otomatik tarama modu
- Motorize programlanabilir 6” – 12” XY tablası
- Opsiyonel Modlar
Park NX 20 Ultra Fast Chemical Properties
- Chemical Force Microscopy with Functionalized Tip
- Electrochemical Microscopy (EC-STM and EC-AFM)
Dielectric/Piezoelectric Properties
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Dynamic Contact EFM (DC-EFM)
- Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
- PFM with High Voltage
Force Measurement
• Force Distance (F-D) Spectroscopy
• Force Volume Imaging
• Spring Constant Calibration by
Thermal Method
Electrical Properties
• Conductive AFM
• I-V Spectroscopy
• Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM/KPM)
• SKPM with High Voltage
• Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
• Scanning Spreading-Resistance Microscopy (SSRM)
• Scanning Tunneling Microscopy (STM)
• Scanning Tunneling Spectroscopy (STS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Magnetic Properties
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Tunable MFM
Mechanical Properties
• Force Modulation Microscopy (FMM)
• Nanoindentation
• Nanolithography
• Nanolithography with High Voltage
• Nanomanipulation
• Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
Optical Properties
• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Thermal Properties
• Scanning Thermal Microscopy (SThM)
