CX-200Plus
Hem yeni hem de deneyimli kullanıcıların birçok zorlu araştırma ve kalite kontrol gereksinimi için uygun bulacağı tam boyutlu bir zemin modeli Taramalı Elektron Mikroskobu-Scanning Electron Microscope(SEM)’dur. CX-200plus’ın standart olarak sağlanan konfigürasyonu, hem SE hem de BSE görüntüleme dedektörlerini ve ayrıca kolay aşama eğimi ve yükseklik ayarlamaları için bir dâhili oda görüş kamerası içerir.
CX-200plus, oldukça uygun fiyata yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleri sunar.
Kategoriler: Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Etiketler: 200 coxem cx electron elektron microscope mikroskop plus scanning scanning electron microscope sem sem mikroskobu sem mikroskobu nedir sem taramalı elektron mikroskobu sem ve tem mikroskopları taramalı taramalı elektron mikroskobu taramalı elektron mikroskobu nedir taramalı elektron mikroskobu taramalı elektron mikroskobu fiyat transmission elektron mikroskobu
CX-200plus, oldukça uygun fiyata yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleri sunar.
- Cx-200Plus ‘EASY’ ve ‘EXPERT’ mod seçenekleri ile kullanıcıya hem basitleştirilmiş düzeyde hem de ileri düzeyde(çok parametreli) olarak çalıştırma seçeneği sunar.
- Panorama Çekimi işlevi ile yüzlerce veya binlerce Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) görüntüsünü yan yana birleştirerek tek bir görüntüde sunabilir.Cx-200Plus ‘ın bu işlev, kullanıcının geniş alanların yüksek çözünürlüklü görüntülerini yakalamasını sağlar.
- Cx-200Plus Halka şeklinde bir STEM dedektörü sunar. 4 TEM grid numunesi aynı anda yüklenebilir. STEM dedektörü kullanılmadığında geri çekilebilir.
- Çift Ekran Modu ile SE ve BSE görüntüleri aynı anda ikili ekranda izlenebilir.
- Sinyal Karıştırma Modu ile SE ve BSE görüntüleri birleştirilerek, kompozit bir görüntüde her iki görüntünün avantajları aynı anda gözlemlenebilir.
- LayerProbe,Taramalı Elektron Mikroskobu’nda ince film analizi için yeni bir yazılım aracıdır ve özel ince film ölçüm araçlarından daha hızlı, daha uygun maliyetli ve daha yüksek çözünürlüklüdür.
- SEM’de İnce Film analizi
- Numune yüzeyinin altındaki çoklu katmanların karakterizasyonu
- Ürüne zarar vermeden analiz etme yeteneği
- 200nm’ye kadar yanal çözünürlük
- Filament, Odak, Kontrast, Parlaklık özellikleri otomatik olarak kontrol edilebilir.
CX-200Plus Taramalı Elektron Mikroskobu’nun Özellikleri
- Büyütme: 15-300.000x
- Çözünürlük: 30kV’de <3nm
- Tam Otomatik Evre(X,Y,R,T,Z,Axis)
- Tıkla ve Taşı Kontrolü
- Yüksek Vakum Gücü
- Panorama Çekimi
- Görüntü Pikseli: 5120 X 3840 Pixel
- İvme Gerilimi: 1-30kV
- Görüntü Kayması: X,Y,R (Rotasyonu)
- Numune Boyutu: 166 mm Çapında
- Boyutu: 640 x 682 x 1430 mm
- Ağırlık: 230 kg
Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz.