EM-30

EM-30 ‘nin araştırma ve endüstriyel kalite kontrolünde çeşitli uygulamalarda kaliteli sonuçlar ve analiz sağlamasına olanak tanır.

Yüksek kaliteli görüntüler elde edebilirsiniz.

4. nesil NanoStationTM yazılımı, çalışmayı ve hız analizini basitleştiren bir dizi otomatik fonksiyon içerir.

Otomatik Odaklama ve Otomatik Parlaklık/Kontrast gibi özellikler, yüksek kaliteli görüntülerin oluşturulmasını hızlı ve kolay hale getirir.

EM-30 Masaüstü Taramalı Elektron Mikroskobu’nda bulunan Joystick ve “Driving Mode” ile hassas kontroller yapabilirsiniz.

Düşük enerji tüketimine ve sezgisel kullanıcı arayüzüne sahiptir.

Panorama modu, özel bir dikiş tekniği ile yüzlerce veya binlerce SEM görüntüsünü yan yana tek bir birleştirilmiş görüntü veya mozaikte birleştirilmektedir.

Hem SE hem de BSE dedektörleri standardı ile NanoStation şunu sunar. Maksimum esneklik için her iki dedektörden ayrı ayrı, yan yana, birleştirilmiş görüntüleri görüntüleme seçeneği sunar.

Karmaşık numune hazırlama prosedürlerini kısaltmakta COXEM Coolstage, vakumun hassas mikro yapı üzerindeki zararlı etkilerini önlemektedir. Ardından iç nemi dondurmak için numunenin sıcaklığını düşürmektedir.

Güçlü elektron ışını ile EDS analizini hızlandırır ve çok sayıda X-Işını üreterek Canlı Analiz yapılmasını mümkün kılar.

Taramalı elektron mikroskobu veya SEM (scanning electron microscope),

Odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu tipidir. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşmektedir. Ardından numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir. Elektron demeti raster tarama ile yüzeyi tarar ve demetin konumu, algılanan sinyalle eşleştirilerek görüntü oluşturulmaktadır. SEM ile 1 nanometreden daha yüksek çözünürlüğe ulaşılabilmektedir. Standart SEM cihazları yüksek vakumda, kuru ve iletken yüzeyleri incelemek için uygundur.

Taramalı elektron mikroskobu ‘nda, yüksek enerjili elektronlar numune ile etkileşerek elektron ve foton sinyalleri oluşturur. Farklı açılarda saçılan elektronlar, dedektör (algılayıcı) tarafından toplanır. Toplanan sinyallerin mikroskop yazılımı ile işlenmesi sonucunda görüntüler elde edilmektedir. İkincil elektronlar, malzeme topografisi ve geri saçılan elektronlar, atom numarasına ve kontrasta bağlı atomik  kompozisyon hakkında bilgi vermektedir. Ayrıca EDS dedektör ile noktasal, çizgisel veya bölgesel nitel ve nicel analiz ile elementlerin dağılım haritalaması yapılmaktadır.

EM-30 Özellikleri

• Büyütme: 15-150.000x ayrıca,
• Çözünürlük: 30kV’de < 5nm ayrıca,
• İvme Gerilimi: 1-30kV ayrıca,
• Yüksek Vakum Gücü ayrıca,
• Örnek Boyutu: 70 mm (G) x 45 mm (Y) ayrıca,
• Boyutu 400 x 600 x 550 mm ayrıca,
• Ağırlık: 85 kg

Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.