EM-30

EM-30 ‘nin araştırma ve endüstriyel kalite kontrolünde çeşitli uygulamalarda kaliteli sonuçlar ve analiz sağlamasına olanak tanır.

Yüksek kaliteli görüntüler elde edebilirsiniz.

4. nesil NanoStationTM yazılımı, çalışmayı ve hız analizini basitleştiren bir dizi otomatik fonksiyon içerir.

Otomatik Odaklama ve Otomatik Parlaklık / Kontrast gibi özellikler, yüksek kaliteli görüntülerin oluşturulmasını hızlı ve kolay hale getirir.

EM-30 Masaüstü Taramalı Elektron Mikroskobu’nda bulunan Joystick ve “Driving Mode” ile hassas kontroller yapabilirsiniz.

Düşük enerji tüketimine ve sezgisel kullanıcı arayüzüne sahiptir.

Panorama modu, özel bir dikiş tekniği ile yüzlerce veya binlerce SEM görüntüsünü yan yana tek bir birleştirilmiş görüntü veya mozaikte birleştirir.

Hem SE hem de BSE dedektörleri standardı ile NanoStation, maksimum esneklik için her iki dedektörden ayrı ayrı, yan yana veya birleştirilmiş görüntüleri görüntüleme seçeneği de sunar.

Karmaşık numune hazırlama prosedürlerini kısaltmak için COXEM Coolstage, vakumun hassas mikro yapı üzerindeki zararlı etkilerini önleyerek iç nemi dondurmak için numunenin sıcaklığını düşürür.

Güçlü elektron ışını ile EDS analizini hızlandırır ve çok sayıda X-Işını üreterek Canlı Analiz yapılmasını mümkün kılar.

Taramalı elektron mikroskobu veya SEM (scanning electron microscope), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu tipidir. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir. Elektron demeti raster tarama ile yüzeyi tarar ve demetin konumu, algılanan sinyalle eşleştirilerek görüntü oluşturulur. SEM ile 1 nanometreden daha yüksek çözünürlüğe ulaşılabilir. Standart SEM cihazları yüksek vakumda, kuru ve iletken yüzeyleri incelemek için uygundur.

Taramalı elektron mikroskobu ‘nda , yüksek enerjili elektronlar numune ile etkileşerek elektron ve foton sinyalleri oluşturur. Farklı açılarda saçılan elektronlar, dedektör (algılayıcı) tarafından toplanır ve toplanan sinyallerin mikroskop yazılımı ile işlenmesi sonucunda görüntüler elde edilir. İkincil elektronlar, malzeme topografisi ve geri saçılan elektronlar, atom numarasına ve kontrasta bağlı atomik  kompozisyon hakkında bilgi vermektedir. Ayrıca EDS dedektör ile noktasal, çizgisel veya bölgesel nitel ve nicel analiz ile elementlerin dağılım haritalaması yapılmaktadır.

EM-30 Özellikleri

• Büyütme: 15-150.000x
• Çözünürlük: 30kV’de < 5nm
• İvme Gerilimi: 1-30kV
• Yüksek Vakum Gücü
• Örnek Boyutu: 70 mm (G) x 45 mm (Y)
• Boyutu 400 x 600 x 550 mm
• Ağırlık: 85 kg

Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.