Four Point Probe Nokta İletkenlik Ölçü Sistemi Pro 4
-Farklı tipte prob uçları
-100mm örnek tablası
-Gelişmiş yazılım
-1mil:ohm- 800ч arası ölçüm kapasitesi
-Sheet Resistance, Resistivity, 1/U ölçümü
-Bilgisayar kontrollü ölçüm sistemi
-Keithley bağlamlı bilgisayar kontrollü ölçüm sistemi
-Hassasiyet ≤ 1%
-Sıcaklık kontrol opsiyonu
Four Point Probe Tanımı
Four Point Probe elektriksel iletkenliği ölçmek ve özellikle yarıiletken malzemelerin elektriksel özelliklerini incelemek için kullanılan bir laboratuvar cihazı ve ölçüm tekniğidir. Bu teknik, malzemenin direnç değerini hassas bir şekilde ölçmek ve bu direnç değeri üzerinden iletkenlik veya özgül direnç gibi elektriksel özellikleri belirlemek için kullanılır. Four Point Probe ölçümleri malzemenin elektriksel performansını değerlendirmek ve kalite kontrolü yapmak için yaygın olarak kullanılır.
Four Point Probe ölçümünde kullanılan temel bileşenler şunlardır:
Probes: Genellikle ince metal iğnelerden oluşur ve bu iğneler, ölçüm yapılacak malzemenin yüzeyine temas eder. İğneler, dört ayrı noktada malzemeye temas ederler.
Dört Nokta (Four Points): Malzemenin yüzeyine dört ayrı noktada yerleştirilir. İki prob bir akım taşır ve diğer iki prob bu akımın voltajını ölçer. Bu düzenlemeye dört noktalı bir ölçüm denir çünkü ölçüm yüzeyi üzerinde sadece dört temas noktası vardır.
Four Point Probe ölçümü yarıiletken malzemelerin özgül direnç, taşıyıcı konsantrasyonu ve hareketlilik gibi temel elektriksel özelliklerini belirlemek için yaygın olarak kullanılır. Özellikle mikroelektronik cihazların üretiminde ve malzeme karakterizasyonunda önemlidir. Ayrıca malzeme bilimi, fizik ve endüstriyel uygulamalarda elektriksel özelliklerin araştırılması için de kullanılır. Malzemenin elektriksel performansının anlaşılması ve geliştirilmesi için önemli bir araçtır.
Çalışma Prensibi
Four Point Probe çalışma prensibi malzemenin direnç değerini hassas bir şekilde ölçmek ve bu ölçümle malzemenin iletkenlik veya özgül direnç gibi elektriksel özelliklerini belirlemektir. Bu teknik, özellikle yarıiletken malzemelerin elektriksel özelliklerini incelemek için kullanılır ve bu nedenle yüksek hassasiyet gerektirir.
Probelerin Konumlandırılması: Dört ayrı temas noktası oluşturacak şekilde malzemenin yüzeyine yerleştirilir. İki prob, bir akım kaynağına bağlıdır ve bu probler arasında sabit bir akım (I) oluşturulur. Diğer iki prob, bir voltmetreye bağlıdır ve bu probler arasındaki voltaj (V) ölçülür.
Akımın Uygulanması: İki akım taşıyan prob arasında oluşturulan sabit akım, malzemenin içinden geçer. Bu akım, malzemenin içerisindeki elektronların hareketine neden olur.
Voltajın Ölçülmesi: Diğer iki prob arasındaki voltaj ölçülür. Bu voltaj, akımın malzeme içerisindeki dirence karşı düştüğü voltaj düşmesidir.
Direnç Hesaplama: Ohm’un kanunu (V = I * R) kullanılarak, ölçülen voltaj düşmesi (V) ve sabit akım (I) kullanılarak malzemenin direnç değeri (R) hesaplanır.
Özgül Direnç Hesaplama: Elde edilen direnç değeri, malzemenin geometrisi ve boyutlarına bağlı olarak özgül direnç (ρ) olarak ifade edilen birim uzunluk başına direnç değerine dönüştürülür. Bu, malzemenin elektriksel karakterizasyonunu daha bağımsız bir şekilde yapmayı sağlar.
Four Point Probe tekniği, malzemenin elektriksel özelliklerini incelemek ve özellikle yarıiletkenlerin taşıyıcı yoğunluğu, mobilite ve özgül direnç gibi önemli parametrelerini belirlemek için kullanılır. Bu özellikleri belirlemek, yarıiletkenlerin elektronik cihazlarda kullanılabilirliğini ve performansını değerlendirmek için kritik bir öneme sahiptir. Ayrıca malzeme karakterizasyonu, malzeme bilimi ve mikroelektronik üretiminde yaygın olarak kullanılan bir tekniktir.
Four Point Probe Kullanım Alanları
Four Point Probe ölçüm tekniği ve cihazı, elektriksel iletkenliği ve direnci hassas bir şekilde ölçmek ve malzemenin elektriksel özelliklerini karakterize etmek için kullanılır.
Yarıiletken Malzemelerin Karakterizasyonu: Yarıiletken malzemelerin elektriksel özelliklerini incelemek için sıkça kullanılır. Bu malzemelerin taşıyıcı yoğunluğu, mobilitesi ve özgül direnç gibi önemli elektriksel parametrelerini belirlemek için kullanılır. Bu, yarıiletkenlerin elektronik cihazlarda kullanılabilirliğini ve performansını değerlendirmek için kritiktir.
İncelenen Malzemelerin Direncinin Ölçülmesi: Malzeme örneklerinin direnç değerini hassas bir şekilde ölçmek için kullanılır. Bu, malzemenin elektriksel iletkenliğini veya yalıtkanlığını belirlemek için kullanılabilir.
Kalite Kontrol ve Üretim Kontrolü: Özellikle yarıiletken cihazlarının üretiminde, Four Point Probe ölçümü kalite kontrolü için kullanılır. Üretilen malzemelerin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi, istenmeyen varyasyonları veya kusurları tespit etmek için önemlidir.
Elektronik Cihaz Tasarımı: Elektronik cihazların tasarım aşamasında, Four Point Probe ölçümü kullanılarak malzemelerin elektriksel özellikleri hesaplanabilir ve bu bilgiler cihazın performansını optimize etmek için kullanılabilir.
Malzeme Bilimi Araştırmaları: Malzeme bilimi araştırmalarında geniş bir kullanım alanına sahiptir. Yeni malzemelerin elektriksel özellikleri ve davranışı incelenirken sıkça kullanılır.
Yarıiletken Aygıtların Geliştirilmesi: Yarıiletken aygıtların (örneğin, transistörler, güneş panelleri, LED’ler) geliştirilmesi ve karakterizasyonunda kullanılır.
Kimya ve Fizik Laboratuvarları: Kimya ve fizik laboratuvarlarında çeşitli malzemelerin elektriksel özelliklerini incelemek ve ölçmek için kullanılır.
Bu kullanım alanları ölçüm tekniğinin elektriksel özelliklerin karakterizasyonu ve malzemelerin performansının değerlendirilmesi gibi birçok uygulamada önemli bir araç olduğunu göstermektedir.