Park Systems NX20 Atomik Kuvvet Mikroskobu
Park Systems NX20 AFM, yüzey pürüzlülüğü, defekt analizi ve 3D yapı ölçümleri gibi zorlu araştırmalar kullanılmaktadır. Yüksek çözünürlük, hızlı tarama ve düşük gürültüyle örnek yüzeylerinin hassas incelenmesini sağlar. Ayrıca, gelişmiş yazılım ve modüler tasarımı sayesinde farklı uygulamalara uyum sağlar.
Park Systems NX20 Atomik Kuvvet Mikroskobu, endüstriyel ve araştırma laboratuvarlarında yüksek hassasiyetli ölçümler çözüm sunar. Bununla birlikte AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu), yüzey topografyasını inceleme, defekt analizi yapabilmektedir. Mikro yapısal ölçümler gerçekleştirme gibi bir dizi önemli uygulama için en ileri teknolojiyle donatılmıştır. Aynı zamanda hızla gelişen yarı iletken endüstrisi ve yüksek çözünürlük gerektiren araştırmalar için tercih edilir.
Park Systems NX20 Atomik Kuvvet Mikroskobu Özellikleri
- Yüksek Hızlı Z Tarayıcı: 15 μm’lik tarama mesafesiyle, hızlı ve doğru topografik ölçümler sunar.
- Gerçek Zemin Kontrolü (True Non-Contact Mode™): Park Systems NX20 Atomik Kuvvet Mikroskobu, en hassas ölçümleri yapmak için gerçek non-kontakt modunu kullanır. Uç (tip) aşınmasını en aza indirerek yüksek çözünürlüklü ve güvenilir görüntüler elde edilmesini sağlar.
- Düşük Gürültü Z Dedektörü: Endüstrinin en iyi düşük gürültü Z dedektörü, doğru topografik verilerin elde edilmesini sağlar. Böylece hatalı ölçüm riskini ortadan kaldırır.
- Gelişmiş Elektriksel Karakterizasyon: Yüksek çözünürlüklü elektriksel tarama modları, iletkenlik, piezoelektrik özellikler barındırmaktadır. Ayrıca daha fazlasını ölçmek için kullanılabilir.
- Motorize XY Örnek Sahası: Örneklerinizi hassas bir şekilde konumlandırmanıza olanak tanıyan bu motorlu sisteme sahiptir. Böylece 1 μm çözünürlükle yüksek tekrarlanabilirlik sağlar.
Park Systems NX20’nin Avantajları
- Hızlı ve Doğru Ölçümler: Park Systems NX20 Atomik Kuvvet Mikroskobu, hızlı defekt görüntüleme sağlar. Doğru yüzey pürüzlülüğü ölçümleri ile verimliliği artırır.
- Gelişmiş 3D Yapı İnceleme: XY tarama sistemi ve gelişmiş Z dedektörü mevcuttur. Böylelikle 3D yapı ölçümleri yüksek doğrulukla yapılabilmektedir.
- Uzun Ömürlü Uç (Tip) Koruma: Gerçek non-kontakt modu sayesinde, AFM uçları uzun süre boyunca keskin kalır. Böylece kullanıcıya uzun süreli verimli kullanım sağlar.
- Kapsamlı Modüler Seçenekler: Park Systems NX20, farklı araştırma gereksinimlerini karşılamaktadır. Bu yüzden çeşitli modüllerle uyumlu olarak genişletilebilmektedir.
Araştırma ve kalite kontrol alanlarında mükemmel sonuçlar sağlamak için ideal bir tercihtir. Yüksek hassasiyetli ölçümler ve yenilikçi özellikleri ile bilimsel araştırmaların ileriye gitmesine katkı sağlar.
Daha Fazla Bilgi ve Akademik İçerik
Park Systems NX20, ileri düzey araştırmalar için tasarlanmıştır. Tam otomasyonlu ve yüksek çözünürlüklü bir atomik kuvvet mikroskobudur. Geniş örnek boyutu desteği, düşük gürültü seviyesi ve çoklu ölçüm modları sayesinde özellikle yarı iletken analizleri sağlar. Aynı zamanda Nano-cihaz karakterizasyonları, polimer incelemeleri ve enerji malzemeleri üzerine çalışan laboratuvarlar için idealdir.
Bu ürünün NX7, NX10 gibi modellerle birlikte detaylı bir şekilde karşılaştırıldığı ve kullanım alanlarının anlatıldığı kapsamlı inceleme yazımıza aşağıdan ulaşabilirsiniz:
🔗 Atomik Kuvvet Mikroskobu Nedir? En Yeni 5 Modelin Akademik İncelemesi
Farklı uygulama alanlarında atomik kuvvet mikroskobunun nasıl kullanıldığını daha yakından incelemek için üretici firmanın uygulama sayfasını ziyaret edebilirsiniz:
