Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre
Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre, yüksek çözünürlüklü 3D yüzey ölçümleri için taşınabilir, kullanıcı dostu bir cihazdır. Hızlı ve hassas ölçümler yaparak, ISO standartlarına uygun pürüzlülük analizleri sunar.
Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre, yüksek çözünürlükte 3D yüzey ölçümü ve analizini hızlı ve güvenilir bir şekilde gerçekleştiren bir cihazdır. Optik profilometre teknolojisi sayesinde, malzeme yüzeylerinin mikrometre ve nanometre seviyesinde hassasiyetle analiz edilmesini sağlar. Böylece bu cihaz, farklı uygulama alanlarında kullanım için ideal olan taşınabilir, hepsi bir arada bir çözüm sunar.
Taşınabilir ve Kullanıcı Dostu Tasarım
Phaseview – ZeeScope, güçlü donanımı ve kompakt tasarımı sayesinde taşınabilir bir 3D dijital mikroskoptur. Tek bir USB bağlantısı ile bilgisayara bağlanabilmektedir. Böylece hiçbir ek donanım veya bakım gerektirmez. Ayrıca, yerinde kullanım için opsiyonel lityum pil ile sahada da kullanılabilmektedir. Böylece kullanıcı dostu yazılımı sayesinde her seviyeden kullanıcı için kolayca kullanılabilmektedir.
Yüksek Hızda 3D Yüzey Ölçümü
Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre, hızlı 3D tarama ve analiz yetenekleri ile dikkat çeker. Z aralığı ve çözünürlüğü, kullanılan objektif ve c-mount bağlantısına bağlı olarak değişir. Ayrıca Z doğruluğu %1, tekrar edebilirlik ise %0.35’tir. Z yapılandırması ve derinlik ölçümü, her türlü yüzeyin ölçülmesine olanak tanır.
Gelişmiş Görüntü İşleme ve Analiz Özellikleri
- 2D ve 3D görüntü alımı
- Otomatik odaklama ve pozlama
- Yüzey pürüzlülük ISO standartlarına uygun ölçümler
- 3D yüzey analizleri ve adım yüksekliği ölçümleri
- Genişletilmiş Derinlik Alanı (EDF) görüntü füzyonu
Cihaz, ZEEscan modülü sayesinde 3D yüzeylerin hızlı bir şekilde alınmasını ve analiz edilmesini sağlar. Görüntü füzyonu ile yüksek çözünürlüklü resimler otomatik olarak elde edilebilmektedir. Böylece bu da daha fazla detay ve doğruluk sağlar.
Yüksek Hassasiyet ve Ölçüm Kapsamı
Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre, 12 farklı pürüzlülük analiz parametresi sunar ve ISO 4287 ve DIN 4768 standartlarına uygundur. Ra, Rq, Rz gibi yaygın kullanılan parametreler ile yüzey pürüzlülüğü ölçümleri yapılabilmektedir. Aynı zamanda ölçüm aralığı 0.01-500μm arasında olup, hassasiyet ≤±10% ve tekrar edebilirlik ≤6% seviyesindedir.
Sonuç ve Raporlama
3D veriler Excel formatında dışa aktarılabilmektedir. Aynı zamanda 3. parti yazılımlar ile uyumlu bir şekilde kullanılabilmektedir. Ayrıca, HTML uyumlu sunumlar için rapor düzenleme imkanı da sunar. Böylelikle bu özellikler, verilerin güvenli bir şekilde arşivlenmesini ve kolayca paylaşılmasını sağlar.
Phaseview – ZeeScope Optik Profilometre, hassas 3D yüzey ölçümü ve analiz ihtiyaçları için mükemmel bir çözümdür. Hem araştırma hem de üretim süreçlerinde yüksek doğruluk ve verimlilik sunar.