Stylus Profiler P7
Stylus Profiler P7 Profilometre Teknik Özellikleri
- Nano-Micro seviyede en yüksek çözünürlük
- 2D-3D görüntüleme özelliği
- Anlık uç kuvvet kontrolü
- 5 MP kamera
- 156 mm tarama kapasitesi
- Tekrarlanılabilirlik 4A˚
- 1mm tarama mesafesi
- İnce filmlerde stres analizi
- Analiz yazılımı
Stylus Profiler
Stylus Profiler P7 bir yüzeyin mikroskobik detaylarını ölçmek ve ayrıca analiz etmek için kullanılan cihazdır. Özellikle malzeme bilimi, yüzey karakterizasyonu ve kalite kontrol alanlarında kullanılır. Stylus profiler yüzeyin yükseklik profilini çıkararak yüzeyin pürüzlülüğünü, dalgalanmalarını ve diğer özelliklerini ölçebilmektedir.
Bu profil ölçümleri; malzeme işleme, yüzey kaplamaları, mikroelektronik üretimi gibi birçok alanda önemli bilgiler sağlayabilir. Ayrıca stylus profiler yüzey profilini ölçmek ve analiz etmek için kullanılan bir cihazdır. Temel olarak, bir yüzeyin yükseklik değişikliklerini mikroskobik ölçekte incelemeye yöneliktir.
İşleyiş şekli şu şekildedir;
– Ölçüm İlkesi: Stylus profiler bir ince prob veya “stilus” adı verilen bir çıkıntıyı yüzey üzerinde gezdirir. Böylece stilus yüzeydeki yükseklik değişikliklerini tespit eder.
– Yüzey Tarayıcı: Stilus yüzeyi tarayarak stilusun hareket ettiği yükseklik değişikliklerini kaydeder. Bu yüzeyin pürüzlülüğü, dalgalanmaları ve diğer detayları hakkında bilgi sağlar.
– Veri Toplama: Tarayıcı stilusun yüzeydeki her bir konumda ölçtüğü yükseklik verilerini toplar. Bu veriler yüzeyin 3D profilini oluşturmak için kullanılmaktadır.
– Veri Analizi: Toplanan yükseklik verileri genellikle 3D yüzey haritaları olarak görselleştirilir. Bu haritalar, yüzeyin çeşitli özelliklerini, örneğin pürüzlülüğü, dalgalanmaları, çıkıntıları ve çukurları gösterir.
– Uygulamalar: Stylus profiler verileri malzeme işleme, yüzey kaplamaları, kalite kontrol, mikroelektronik üretimi, biyomedikal uygulamalar ve daha birçok alanda kullanılmaktadır.
Kullanım Alanları
– Malzeme Bilimi: Malzemelerin yüzey pürüzlülüğünü, yapılarını ve özelliklerini incelemek için kullanılmaktadır.
– Yüzey Kaplamaları: Boyalar, vernikler, kaplamalar ve film tabakalarının kalınlığını ve yüzey yapısını analiz etmek için kullanılmaktadır.
– Yüzey Mühendisliği: Yüzey işleme yöntemlerinin etkilerini değerlendirmek ve optimize etmek için kullanılmaktadır.
– Mikroelektronik Üretimi: İnce film üretiminde, yarıiletken cihazlarda ve mikroelektronik bileşenlerde yüzey özelliklerini kontrol etmek için kullanılmaktadır.
– Tıp ve Biyoteknoloji: Biyomedikal cihazların yüzey özelliklerini ve yüzey pürüzlülüğünü değerlendirmek için kullanılabilmektedir.
– Optik ve Görsel Uygulamalar: Optik yüzeylerin karakterizasyonunda ve optik bileşenlerin üretiminde kullanılmaktadır.
– Enerji Üretimi ve Depolama: Güneş panelleri, yakıt hücreleri ve bataryaların yüzey özelliklerini analiz etmek için kullanılmaktadır.
– Mikro ve Nanoteknoloji: Mikro ve nanometre ölçekli yüzey özelliklerinin analizi için kullanılmaktadır.
– Kalite Kontrol: Üretim süreçlerinin denetimi ve ürün kalitesinin değerlendirilmesi için kullanılabilmektedir.
– Arkeoloji ve Sanat: Antik objelerin yüzey analizi ve restorasyon çalışmalarında kullanılabilmektedir.
Stylus Profiler P7 Profilometre
Stylus Profiler P7, üstün sensör ve ayrıca tarama aşaması tasarımı sayesinde sektör lideri adım yüksekliği tekrarlanabilirliğine sahiptir. Ayrıca spesifikasyonlar, tipik bir adım yüksekliğinde en iyi bilinen yöntemler kullanılarak yapılan 15 denemenin standart sapmasına dayanmaktadır.
UltraLite® düşük gürültülü prob sensörü teknolojisi, yüksek çözünürlük ve hassas ölçümler için tüm aralıkta sabit prob ucu örnek kuvvetlerini aynı zamanda mükemmel dikey doğrusallığı koruyan bir doğrusal değişken diferansiyel kapasitif (LVDC) sensör kullanır. Böylece dikey doğrusallık, maksimum doğrusal olmayan bileşenin dikey aralığa bölünmesiyle ölçülür.
Stylus Profiler P7, mükemmel kısa tarama, uzun tarama ve bununla beraber stres ölçümleri için tüm tarama uzunluğu boyunca üstün tarama düzlüğüne sahiptir.
Tencor P7 stylus profil oluşturucu, dikişsiz 150 mm’ye kadar taramalar için adım yükseklikleri, pürüzlülük, eğim ve ayrıca gerilimin 2D ile 3D ölçümlerini destekler.
Uygulamalar
- Adım yüksekliği: 2B ve 3B adım yüksekliği
- Doku: 2B ve 3B pürüzlülük ve dalgalanma
- Form: 2B ve 3B yay ve şekil
- Stres: 2B ve 3B ince film gerilimi
- Kusur incelemesi: 2B ve 3B kusur yüzey topografisi
Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz. Ayrıca tüm ürünleri de buradan inceleyebilirsiniz.