SELPA
SELPA (Tarayıcı Elektron Mikroskobu), SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu) temel alınarak geliştirilmiş otomatik bir geniş alan parçacık analiz cihazıdır. Endüstriyel uygulamada, partikülleri çeşitli boyut ve elementlerine göre analiz etmek ve sınıflandırmak için kullanılabilir.
Kategoriler: Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
SELPA’ nın gücü, geniş alan haritalamanın mümkün olmasıdır. Ayrıca SELPA, 2.5um altındaki partikülleri analiz edebilir, seçilen alanın element dağılımının sonuçlarını alabilen bir SEM /EDS otomatik sistemidir.
- ISO 16232 standardına uygun bir kütüphane sağlar, böylece kullanıcılar standarda uygun analiz verilerini elde edebilir.
- Tipik bir elektron mikroskobu ile filmin tüm alanını analiz etmek çok zaman alırken, SELPA filmin tüm parçalarını geniş bir alan üzerinde ölçerek şeklini gözlemler.
- Geniş alanlı bir numunenin yüzeyindeki gözenekleri otomatik olarak ölçer ve tane boyutuna ve ölçülen gözeneklerin elemanına göre sınıflandırılmış veriler sağlar.
- Uygulama alanları;
- Temizlik Testi,
- Çelik Dâhil Etme Testi,
- GSR Analizi,
- Mineral, Asbest Analizi,
- Parçacık Analizi,
SELPA Taramalı Elektron Mikroskobu ( Sem ) Özellikleri
- Büyütme: x60 ile x5000
- İvmelenme Gerilimi: 1 ila 30kV
- Evre:
- X: 100mm (Motorlu)
- Y: 100mm (Motorlu)
- Z: 12 – 40mm (Motorlu)
- Değişken Basınçlı Vakum Modu
- Mekansal Boyut: 220mm Çapında
- Maksimum Örnek Boyutu: 100 mm Çapında
- Maksimum Örnek Yüksekliği: 28 mm
- Vakum Sistemleri (Turbo Pompa, Döner Pompa, MFC(VP kontrolü))
- Oda Görüş Kamerası
- Dörtlü Membran Filtre Numune Kademesi
- Çoklu Pin Stub Numune Kademesi
- GUI: NanoStation 4.1
Benzer ürünlere buradan ulaşabilirsiniz.