Quad Map Yarı Otomatik İletkenlik Ölçüm Sistemi
Kategoriler: Dört Nokta Prob Ölçüm Sistemleri
Quad Map Yarı Otomatik İletkenlik Ölçüm Sistemi
– İnce film, wafer ve solar panellerde yüksek hız ve hassasiyette ölçüm
– Sheet Resistance,Resistivity, 1/V ölçümü
– 150mm-300mm örnek kapasitesi
-50 point/min örnekleme süresi
– 1mΩ – 10 бΩ ölçüm aralığı
– Sıcaklık kontrol opsiyonu
– 2D ve 3D haritalama
– FAB yönetim sistemi