Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast
Atomic force microscope Park System yüksek performanslı Atomik Kuvvet Mikroskobu Sistemleri (Atomic Force Microcope – AFM) AR-Ge merkezlerinde hizmet vermektedir. Yüzey topografyasının 3 boyutla görüntülenmesi başta olmak üzere birçok karakterizasyon çalışmasında kullanılabilmektedir.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Ne İşe Yarar?
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), yüksek çözünürlüklü bir yüzey görüntüleme tekniği olup, nanoskala düzeydeki özellikleri inceleme yeteneğiyle bilim ve mühendislik alanlarında kullanılan güçlü bir araçtır. AFM’nin temel işlevi, bir tarama probu veya ucu aracılığıyla bir yüzeyin topografyasını, atomik düzeydeki yükseklik farkları dahil olmak üzere, incelemektir. AFM, bu işlemi gerçekleştirmek için bir kuvvet algılayıcı kullanır ve bu sayede yüzeydeki etkileşimleri, özellikle atomik çekim ve itme kuvvetlerini, ölçebilir. Bu, örneğin materyallerin mekanik özelliklerini, yüzey pürüzlülüğünü, biyolojik örneklerin yapısını veya moleküler etkileşimleri incelemek için kullanılır. AFM’nin avantajları arasında üç boyutlu görüntüleme yeteneği, yüksek çözünürlük, çeşitli ortamlarda (hava, sıvı, vakum) çalışabilme esnekliği ve atomik düzeyde hassas ölçümler yapabilme yeteneği bulunmaktadır. Bu özellikleri, nanobilimden malzeme bilimine, biyolojiden yüzey kimyasına kadar birçok alanın keşfinde ve anlayışında önemli katkılarda bulunur.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast, tamamen otomatik olarak çalışabilen, yüksek çözünürlüklü ve uygun fiyatlı Atomik Kuvvet Mikroskobudur. Sistemin sahip oluğu tarayıcı üniteleri Atomic Force Microscope olarak ultra hızlı görüntü alma imkanı sağlar.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Kullanım Alanları
Malzeme Bilimi ve Nanoteknoloji: Atomic force microscope malzeme yüzeylerinin nanoskala özelliklerini incelemek için yaygın olarak kullanılır. Bu, nanomalzemelerin yapısal, mekanik ve elektronik özelliklerini anlamak için önemlidir. Ayrıca, nanoteknoloji uygulamalarında kullanılan nanoölçekli yapıların karakterizasyonu için de kullanılır.
Biyoloji ve Tıp: AFM biyolojik örneklerin, hücrelerin ve proteinlerin yüzey topografyasını ve mekanik özelliklerini incelemede etkilidir. Bu, hücre yapısı, protein katlanması ve moleküler etkileşimlerin anlaşılmasına katkı sağlar. Biyomedikal araştırmalarda, ilaç geliştirmede ve biyolojik malzemelerin karakterizasyonunda önemli bir rol oynar.
Yarıiletken Endüstrisi: Atomic force microscope entegre devre (IC) üretiminde ve nanoelektronikte kullanılan yarıiletken malzemelerin yüzey özelliklerini incelemede önemlidir. Bu, nanoskala ölçekteki yapılarda kusurları belirlemek ve üretim süreçlerini optimize etmek için kullanılır.
Çevre Bilimleri: Atomic force microscope yüzeydeki nano partiküllerin ve malzemelerin çevresel etkileşimlerini incelemek için kullanılır. Özellikle, kirleticilerin ve doğal malzemelerin yüzey özellikleri üzerindeki etkileri araştırmak için kullanılır.
Fiziksel Kimya: Atomik Kuvvet Mikroskobu moleküler yapıları, yüzey reaktivitelerini ve moleküler etkileşimleri incelemek için fiziksel kimya alanında yaygın olarak kullanılır.
Enerji Araştırmaları: Atomic force microscope enerji depolama ve dönüşüm cihazlarının (örneğin, güneş pilleri ve yakıt hücreleri) nanoskala yüzey özelliklerini ve malzeme etkileşimlerini anlamak için kullanılır.
Park NX 7 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu Özellikleri
Yüksek çözünürlükte 3D görüntü kalitesi
- Ultra hızlı tarayıcı
- Tamamen programlanabilir Smart Scan yazılım
- Otomatik tarama modu
- Manuel XY tabla
- Opsiyonel Modlar
Chemical Properties
- Chemical Force Microscopy with Functionalized Tip
- Electrochemical Microscopy (EC-STM and EC-AFM)
Dielectric/Piezoelectric Properties
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Dynamic Contact EFM (DC-EFM)
- Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
- PFM with High Voltage
Force Measurement
• Force Distance (F-D) Spectroscopy
• Force Volume Imaging
• Spring Constant Calibration by
Thermal Method
Electrical Properties
• Conductive AFM
• I-V Spectroscopy
• Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM/KPM)
• SKPM with High Voltage
• Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
• Scanning Spreading-Resistance Microscopy (SSRM)
• Scanning Tunneling Microscopy (STM)
• Scanning Tunneling Spectroscopy (STS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Magnetic Properties
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Tunable MFM
Mechanical Properties
• Force Modulation Microscopy (FMM)
• Nanoindentation
• Nanolithography
• Nanolithography with High Voltage
• Nanomanipulation
• Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
Optical Properties
• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Thermal Properties
• Scanning Thermal Microscopy (SThM)