Foto-Luminesans Sistem
Mikro Foto-Luminesans Ölçüm Sistemi
- Mikro/makro PL/RT PLE & EL Sistemi
- Değişken uygulamalar için ölçeklendire bilirlik
- Yüksek çözünürlükte PL görüntüsü
- Opsiyonel Floresans ömrü
- 4 K düşük sıcaklık seçeneği
Ölçümler;
- Oda Sıcaklığında Mikro Foto-Lüminesans / Haritalama
- Oda Sıcaklığında Mikro Foto-Lüminesans Eksitasyon (Absorpsiyon)/ Haritalama
- Düşük Sıcaklıkta Mikro Fotolüminesans
- Oda Sıcaklığında Kalınlık
Uygulama Alanları;
- SiC gibi yapısal kusurların SF (Stacking faults) ve TD’ler (triangular defects) gibi analizi
- Yarı iletken karakterizasyonu ve testleri (III-V malzemeleri)
- GaN / ZnO LED wafer yüzey karakterizasyonu
(Yüzey kirletici, homojenlik, Yansıtıcılık ve Kalınlık testi)
- NIR CCD için sensör geliştirme
- Termoelektrik Eleman ile (PBS, PBSE rod)
- LED Malzeme Geliştirilmesi
- TDIPL ve IQE
- III-V PL malzemeleri
| Algılama Aralığı | 200-5,000 nm |
| Sistem Çözünürlüğü | 1200 gr /mm 0.045 nm optik ağ ( grating) |
| Uzaysal Çözünürlük | 1um /(İstek üzerine diğer çözünürlükler sağlanabilir) |
| Spektrografi | Sapmaları düzeltilmiş yüksek hammadde miktarı (throughput-verimlilik) |
| Detektör | TE soğutmalı yüksek performanslı CCD/PMT/Foto diyot |
| Lazer Güç Kontrolü | %0.1⁓ %100 (İstek üzerine 6 farklı güç seviyesi ve diğer seviyelere kadar sağlanabilir.) |
| Lazer Eksitasyonu (Uyarımı | Deep UV-NIR ( 3 farklı kaynağa kadar sağlanabilir.) |
| Örnek Tablası | XY tarama tablası
Hareket Alanı: 76 mm x 53 mm Tekrarlanabilirlik: < 1 um Çözünürlük (min):0.05 um(min) 0.1 um (karakteristik-typical) |
| Görüş Sistemi | Örnek görüntüsü & iç ışın pozisyonu görüntülemesi için maksimum IEEE 1394 ara yüzlü 1600X dijital görüntü CCD kamera |
| Otomasyon ( istek üzerine ) | Giriş kontrollü ışın gücünü ayarlamak için yazılım kontrollü lazer reddetme filtresi ve değişken ND filtre seti |
| Objektif Lens | Spektral Aralığı 200-1700 nm
10X,50X & 100 X (plan lenses) |
| Işın Spot Boyutu | 100 X objektifte < 1 um |
