Ürünler

Quad Map Yarı Otomatik İletkenlik Ölçüm Sistemi

Açıklama

Quad Map Yarı Otomatik İletkenlik Ölçüm Sistemi
-İnce film, wafer ve solar panellerde yüksek hız ve hassasiyette ölçüm
-Sheet Resistance,Resistivity, 1/V ölçümü
-150mm-300mm örnek kapasitesi
-50 point/min örnekleme süresi
-1mΩ – 10 бΩ ölçüm aralığı
-Sıcaklık kontrol opsiyonu
-2D ve 3D haritalama
-FAB yönetim sistemi

Translate »