Park System yüksek performanslı Atomik Kuvvet Mikroskobu Sistemleri (Atomic Force Microscope) AR-Ge merkezlerinde hizmet vermektedir.
Yüzey topografyasının 3 boyutla görüntülenmesi başta olmak üzere birçok karakterizasyon çalışmasında kullanılabilmektedir.
Park System Atomik kuvvet mikroskopları sahip olduğu True-Non Contact modu son teknoloji otomasyon ölçüm metotları ile ülkemizde en çok tercih edilen Atomik Kuvvet Mikroskobu sistemdir.
XE ve NX Serisi Atomik Kuvvet Mikroskopları sahip olduğu devrim nitelediğindeki özellikleri ile yüzey topografyasının nanometre mertebesinde incelenmesi için geliştirilmiştir.
Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir. Her çeşitli malzemelerin çeşitli yüzey özelliklerini (sürtünme, yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü, tribolojik özellikler, atomik seviyede yüzey kuvvetleri vb.) ve düşük boyutlu nano yapıların ve nano malzemelerin fizikokimyasal yüzey özelliklerinin elde edilmesinde kullanılır. AFM katı hal fiziği, yarıiletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği ve kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, hücre biyolojisi ve tıp gibi doğal bilimler gibi birçok alanda uygulanabilir.
Kullanım Alanları:
- Hücrenin mekanik özelliklerinin araştırılmasında
- Nano yapılı malzemelerin gerçek görüntülenmesinde
- Nano boyutlarda elektriksel ölçümlerde
- Yüzeylere nano boyutlarda yapılar çizmede
- Nano boyutlarda manyetik ölçümlerde kullanılmaktadır.
